一、手持式合金分析儀技術參數：
重量：1.7kg
尺寸：30cm（L） x 10cm（W） x 28cm（H）
分析范圍：Ti-U之間的所有元素
激發源：X射線管（陶瓷），Ag靶，zui大電壓40kV
語言：漢語，英語，韓語，日語，俄語，德語，意大利語，法語，荷蘭語，西班牙語，墨西哥語等（用戶自選）
檢測器：高分辨率SI-PIN檢測器
操作系統：HP掌上電腦：Windows 5.0
Bruker 軟件
冷卻系統
Peltier恒溫冷卻系統，保證儀器的使用壽命和精度
電源
可交、直流供電；2節充電鋰電池，可連續工作8-12小時
電池充電器
交流充電器：110/220V，50/60Hz
顯示器
240x320彩顯; 65,536像素; 背景光可調; 觸摸屏
數據傳輸
USB、紅外、藍牙、無線局域網
數據存儲
主機：512MB
存儲卡：CF/SD/MSD卡，2GB，能存儲幾百萬個牌號和測量數據
高溫測量
熱表面適配器，可測量500℃高溫樣品
安全
密碼保護，設有多級安全鎖.
運輸
減震、抗壓、防水、密封儀器箱
質保期
2年
環境范圍
-20℃～ 50℃
認證
二、手持式合金分析儀優點：
無損、定量分析
快速、便攜、可靠
能夠分析Al, Mg, Si
可編輯用戶數據庫
測量元素范圍可低至Mg（12）
微軟實時系統（MS CE）軟件提供圖譜分析
高靈敏度，可檢測低至PPM的微量元素
PXRF軟件還具有定性和定量分析功能，控制光管的電壓和電流，使之適用于大范圍的元素測量。
NASA/Bruker共有真空-無氦氣消耗，精度可靠。
三、手持合金分析儀的原理：
手持式礦石元素分析儀的是一種XRF光譜分析技術，可用于確認物質里的特定元素， 同時將其量化。它可以根據X射線的發射波長（λ）及能量（E）確定具體元素，而通過測量相應射線的密度來確定此元素的量。如此一來，XRF度普術就能測定物質的元素構成。
每一個原子都有自己固定數量的電子（負電微粒）運行在核子周圍的軌道上。而且其電子的數量等同于核子中的質子（正電微粒）數量。從元素周期表中的原子數我們則可以得知質子的數目。每一個原子數都對應固定的元素名稱，例如鐵，元素名是Fe，原子數是26。 能量色散X螢光與波長色散X螢光光譜分析技術特別研究與應用了zui里層三個電子軌道即K，L，M上的活動情況，其中K軌道zui為接近核子，每個電子軌道則對應某元素一個個特定的能量層。
手持合金分析儀在XRF分析法中，從X光發射管里放射出來的高能初級射線光子會撞擊樣本元素。這些初級光子含有足夠的能量可以將zui里層即K層或L層的電子撞擊脫軌。這時，原子變成了不穩定的離子。由于電子本能會尋求穩定，外層L層或M層的電子會進入彌補內層的空間。在這些電子從外層進入內層的過程中，它們會釋放出能量，我們稱之為二次X射線光子。
而整個過程則稱為螢光輻射。每種元素的二次射線都各有特征。而X射線光子螢光輻射產生的能量是由電子轉換過程中內層和外層之間的能量差決定的。例如，鐵原子Fe的Kα能量大約是6.4千電子伏。特定元素在一定時間內所放射出來的X射線的數量或者密度，能夠用來衡量這種元素的數量。典型的XRF能量分布光譜顯示了不同能量時光子密度的分布情況。
